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北京時代手持式粗糙度儀可配粗糙度儀測量平臺TA610 TA620,用來測量不容易放置的工件和形狀較小的工件,測量數(shù)據(jù)更**,更方便快捷。粗糙度儀測量平臺TA610齒條升降,立柱可以隨意轉(zhuǎn)動,用來測量不容易放置的工件,可提高測量精度 花崗巖平臺平面度:00級|平面公差值3μm 花崗巖平臺尺寸:400×250×70mm 垂直升降高度:270mm 垂直升降微調(diào)量:20mm 粗糙度儀測量平臺TA620絲桿升降,平臺上設(shè)置V型槽,用來測量形狀較小的工件,可提高測量精度 花崗巖平臺平面度:00級|平面公差值3μm 花崗巖平臺尺寸:400×250×70mm 垂直升降高度:300±1mm 升降回程誤差:≤手輪旋轉(zhuǎn)1/6圈
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